主要內(nèi)容

調(diào)整低維半導(dǎo)體中的躍遷偶極矩（TDM）方向具有實(shí)際意義，因?yàn)樗梢詫?shí)現(xiàn)高效的納米光子和發(fā)光二極管，但允許連續(xù)調(diào)整TDM方向的材料仍然比較少見。

文中結(jié)合k-Space光致發(fā)光光譜和多尺度建模，證明了鹵化鉛鈣鈦礦（LHP）納米片（NPL）狀固體中的TDM趨向在很大程度上是通過NPL幾何結(jié)構(gòu)來限制可調(diào)的。其進(jìn)一步量化了NPL組裝過程中單軸排序在改變薄膜宏觀發(fā)射方向相關(guān)的作用，這在實(shí)際光電器件中尤其重要。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，即使在室溫下，超薄（one- and two-monolayer-thick）NPLs的面內(nèi)偶極比也會(huì)有所降低。由于相分離和NPL–NPL去耦合，NPLs在二元共混物中保持其TDM趨向，而不考慮粒子間能量轉(zhuǎn)移，這使得設(shè)計(jì)的薄膜熒光顯示出固有的角度與顏色梯度的依耐性。

• 使用Fluxim提供的Setfos模擬仿真軟件對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行評估。

• 使用配備光譜儀、線性偏振器的商用儀器 Phelos（Fluxim Inc.） 對 NPL 薄膜角度依賴的PL光致發(fā)光譜進(jìn)行了分析。

產(chǎn)品推薦-Phelos角度分辨電致發(fā)光/光致發(fā)光測量系統(tǒng)

Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同時(shí)也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關(guān)系，計(jì)算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。（點(diǎn)擊訪問）

文獻(xiàn)信息